Metóda predstavuje moderné analytické zariadenie umožňujúce korelované merania topografie a chemického zloženia vzorky. AFM poskytuje detailný obraz povrchu s nanometrovým rozlíšením na základe interakcií medzi ostrým hrotom a povrchom materiálu. Ramanovský spektrometer zároveň umožňuje identifikovať chemické väzby a fázy prostredníctvom analýzy rozptylu svetla. Spojenie týchto techník prináša výhodu simultánneho zobrazenia morfologických aj chemických vlastností tej istej oblasti.